4200 Keithley
Testeurs de composants
Système de caractérisation des semi-conducteurs, 2 à 9 canaux SMU, 210 V 100 mA ou 210 V 1 A, Deux ports Ethernet LAN, RS-232, interface GP-IB pour piloter l’instrument, 2 ports USB.
| LOCATION | 1 295 € /semaine* | |||||||
| ACHAT |
|
|||||||
Spécifications: 4200 Keithley
Système de caractérisation des semi-conducteurs :
• Configurable avec de deux à neuf SMU et des préamplis à distance sub-femtoamp en option,
• Le module I-V ultra-rapide à double canal prend en charge les tests I-V d’impulsion et d’autres applications d’impulsion,
• Oscilloscope numérique 4200-SCP2 pour mesurer les impulsions et surveiller les formes d’onde,
• Écran plat 12,1 pouces,
• Deux (2) SMU de puissance moyenne modèle 4200-SMU (plus de SMU en option), 210 V, 100 mA, 2 W,
• 4210-SMU (haute puissance) 210 V, 1 A, 20 W (option),
• Deux ports LAN Ethernet, RS-232, interface GP-IB pour le pilotage, 2 ports USB.
Merci de nous contacter pour une version avec plusieurs modèles de SMU ou de SMU haute puissance.
Télécharger la documentation technique 4200 Keithley
Le modèle 4200-SCS est une solution système complète pour la caractérisation électrique des dispositifs, des matériaux et des processus semi-conducteurs.
Cet analyseur de paramètres avancé offre des fonctionnalités intuitives et sophistiquées pour la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs en combinant une sensibilité et une précision de mesure sans précédent avec un système d’exploitation Windows® intégré et l’environnement de test interactif Keithley.
Il s’agit d’une solution puissante à boîtier unique entièrement programmable.
